Applications of Neutron Reflectivity Measurements to Nanoscience: Thin Films and Interfaces

Abstract Neutron reflectivity has matured in recent years from an exotic method used only by a few experts to an essential tool for the investigation of thin films and interfaces on the nanoscale. In contrast to x-ray reflectivity, which provides electron density profiles, neutron reflectivity revea...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Ankner, John F. [verfasserIn]

Zabel, Hartmut [verfasserIn]

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2003

Schlagwörter:

nanoscale

neutron reflectivity

neutron scattering

thin films

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: MRS bulletin - Berlin : Springer, 1982, 28(2003), 12 vom: Dez., Seite 918-922

Übergeordnetes Werk:

volume:28 ; year:2003 ; number:12 ; month:12 ; pages:918-922

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Volltext

DOI / URN:

10.1557/mrs2003.255

Katalog-ID:

SPR041936019

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