Compositional metric learning for multi-label classification

Abstract Multi-label classification aims to assign a set of proper labels for each instance, where distance metric learning can help improve the generalization ability of instance-based multi-label classification models. Existing multi-label metric learning techniques work by utilizing pairwise cons...
Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Autor*in:

Sun, Yan-Ping [verfasserIn]

Zhang, Min-Ling

Format:

E-Artikel

Sprache:

Englisch

Erschienen:

2020

Schlagwörter:

machine learning

multi-label learning

metric learning

compositional metric

positive semidefinite matrix decomposition

Anmerkung:

© Higher Education Press 2020

Übergeordnetes Werk:

Enthalten in: Frontiers of computer science in China - Beijing : Higher Education Press, 2007, 15(2020), 5 vom: 31. Dez.

Übergeordnetes Werk:

volume:15 ; year:2020 ; number:5 ; day:31 ; month:12

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Volltext

DOI / URN:

10.1007/s11704-020-9294-7

Katalog-ID:

SPR05114851X

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